LS 13 320 XR

Beneficios
– Mediciones de alta resolución
– Intervalo dinámico ampliado
– Resultados rápidos y precisos
– Eficiente
Más información

Descripción

Analizador de tamaño de partículas LS 13 320 XR
Para grandes mejoras que le ayudan a detectar pequeñas diferencias._x000B__x000B_El LS 13 320 XR ofrece los mejores datos de distribución de tamaño de partículas de su clase mediante tecnología PIDS avanzada,* la cual permite mediciones de alta resolución y un intervalo dinámico ampliado. Al igual que sucede con el LS 13 320, el analizador XR proporciona resultados rápidos y precisos y le ayuda a agilizar los flujos de trabajo para optimizar la eficiencia. Algunas grandes mejoras le ayudan a detectar de manera fiable pequeñas diferencias que pueden tener un gran impacto en sus datos de análisis de partículas._x000B__x000B_
Intervalo de medición directa de 10 nm a 3500 µm
Destaca automáticamente los resultados de aceptación/fallo para un control de calidad más rápido
Software mejorado que simplifica la creación de métodos para mediciones estandarizadas
Nuevas normas de control para verificar de forma adecuada el rendimiento del instrumento o módulo

Características del LS 13 320 XR
– Detecta pequeñas diferencias
– Intervalo de medición ampliado: 10 nm – 3500 µm
– La difracción láser plus es una avanzada tecnología de dispersión diferencial de la intensidad de polarización (PIDS) que permite la medición de alta resolución y la notificación de datos reales a partir de 10 nm
– Proporciona una detección precisa y fiable de varios tamaños de partícula en una única muestra
– Software fácil de usar
– El software ADAPT dispone de una verificación automática de aceptación/fallo
– Los métodos preconfigurados aportan resultados con 3 clics o menos
– Simplifica la operación del analizador tanto para usuarios expertos como para principiantes
– Vista superpuesta de los datos históricos con 1 clic
– Diagnósticos de usuario intuitivos le mantienen informado durante la obtención de muestras
– Creación simplificada de métodos para mediciones estandarizadas
– El software ADAPT está habilitado para 21 CFR Parte 11
– Sistema de seguridad personalizable para satisfacer diversas necesidades
– Elija entre 4 niveles de seguridad
– La configuración de alta seguridad cumple con 21 CFR Parte 11
– Tecnología PIDS* para la detección directa de partículas de 10 nm
– 3 longitudes de onda de luz (450, 600 y 900 nm) irradian las muestras con luz polarizada vertical y horizontal
– El analizador mide la luz dispersada de las muestras a lo largo de un intervalo de ángulos
– Las diferencias en la luz radiada de forma horizontal y vertical para cada longitud de onda proporcionan datos de alta resolución de distribución de tamaños de partículas

 

 

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